已解决
【ARM Trace32(劳特巴赫) 使用介绍 5 -- Trace32 scan dump 详细介绍】
来自网友在路上 186886提问 提问时间：2023-11-20 13:41:09阅读次数： 86
最佳答案 问答题库868位专家为你答疑解惑
文章目录
- 1.1 JTAG 测试逻辑架构
- 1.2 D型扫描触发器
- 1.2.1 全扫描介绍
- 1.3 IR 寄存器
- 1.4 TDR(Test data registers)
- 1.4.1 TDR 的实现
- 1.4.1.1 Bypass Register
- 1.4.1.2 Boundary-scan register
- 1.5 Scan Dump
- 1.5.1 soft fusion
1.1 JTAG 测试逻辑架构
图 1-1 片上测试逻辑概念图
如前面文章所述，测试逻辑架构必须包含的组件有
- 一个 TAP 控制器
- 一个指令寄存器 IR
- 一组测试数据寄存器 DR
测试逻辑架构示意图如上图1-1所示。
下面再简单介绍 图 1-1：
- TAP 控制器接收 TCK，TMS 和 TRST（可选）信号，产生 IR、DR和其他组件所需的时钟和控制信号，控制所要执行的操作，如复位、移位、捕获和更新等；
查看全文
99%的人还看了
相似问题
- 寄存器、缓存、内存之间的关系和区别
- 北邮22级信通院数电：Verilog-FPGA（10）第十周实验 实现移位寄存器74LS595
- PCIe寄存器之二
- 嵌入式养成计划-51----ARM--ARM汇编指令--内存读写指令--程序状态寄存器传输指令--软中断指令--混合编程
- 野火霸天虎 STM32F407 学习笔记_3 尝试寄存器映射方式点亮 LED 灯
- verilog——移位寄存器
- ARMday03（寄存器读写、栈、程序状态寄存器、软中断和异常、混合编程）
- 【单片机基础小知识-如何通过指针来读写寄存器】
- verilog 每日一练- 移位寄存器
- 汇编的各种指令（数据搬移、移位、位运算、算数、比较、跳转、特殊功能寄存器、单寄存器、多寄存器、栈指针指令）
猜你感兴趣
版权申明
本文"【ARM Trace32(劳特巴赫) 使用介绍 5 -- Trace32 scan dump 详细介绍】"：http://eshow365.cn/6-40377-0.html 内容来自互联网，请自行判断内容的正确性。如有侵权请联系我们，立即删除！